Радиационные процессы в ионных кристаллах

Радиационные процессы в ионных кристаллах

РАДИАЦИОННЫЕ ПРОЦЕССЫ В ИОННЫХ KPИСТАЛЛАХ

§2.1. Оптическое возбуждение ионных кристаллов 11.14-16]

Под оптическим излучением понимается электромагнитное излучение с длинами

волн, расположенными в диапазоне от 0,01 нм ([pic]эВ)до 10мм ([pic]эВ)

[18]. Указанный диапазон электромагнитных волн охватывает в основном

инфракрасное, видимое, ультрафиолетовое и рентгеновское излучение. Хотя эти

виды излучений весьма сильно различаются между собой по свойствам, природе

излучателей и способы регистрации, тем не менее для всех их общим является

то, что для них современная техника позволяет формировать достаточно

направленные потоки волн и, следовательно, с помощь» их можно еще получать

«изображение» предметов. Ниже будет идти речь о возбуждении кристаллов в

основном оптическим излучением.

При облучении кристаллов квантами электромагнитного излучения и частицами

(например, электронами) в широком диапазоне энергий можно осуществить

возбуждение электронной и ядерной подсистем кристалла [14-16). В идеальном

ионном кристалле в области энергий квантов 10 - 10» эВ наблюдается

поглощение излучения, сопровождающееся возбуждением колебаний

кристаллической решетки (созданием фотонов); в области энергии [pic]эВ

наблюдается поглощение, соответствующее возбуждению электронной подсистемы

кристалла (созданию электронных возбуждений ); в области еще больших

значений энергии могут осуществляться возбуждения ядер.

В реальном кристалле с собственными и примесными дефектами наблюдаются

еще относительно слабые полосы поглощения в фотонной области и в области

электронных возбуждений, обусловленные наличием этих дефектов.

Щелочно-галоидные соединения обладают широкими зонами запрещенных значений

энергии (например, для ,NaCl= 8,6 эВ). Благодаря этому чистые ЩГК

оптически прозрачны в широком спектральном диапазоне, включающем всю

видимую и близкую инфракрасную область, а также значительную часть

ультрафиолетовой (УФ) области спектра. Эти кристаллы поглощают излучение с

длинами волн в основном короче 210 нм ([pic] > 5,9 эВ). Показатель

поглощения [pic] в максимумах полос достигает значений [pic]. Столь

большие значения показателя поглощения свидетельствуют о том, что это

поглощение связано не с дефектами кристалла, а с возбуждением собственных

ионов, входящих в состав кристалла.

Спектральное положение наиболее интенсивного максимума (рис.2.1) зависит от

природы аниона. Кроме того, при облучении кристалла излучением из области

этой полосы поглощения кристалл практически не приобретает свойство

фотопроводимости (см.: [17] , с.7). На основании этих фактов сделан вывод,

что наиболее интенсивный максимум в спектре поглощения обусловлен созданием

бестоковых подвижных электронных возбуждений - низкоэнергетических анионных

экситонов (е°). Аннонный экситон в момент его рождения можно представить

себе как возбужденное состояние аниона ([pic])* (§2.2).

Характерная ступенька в спектре поглощения, следующая за максимумом е°,

обусловлена началом оптических переходов электронов из валентной зоны в

зону проводимости, приводящих к созданию электронно-дырочных пар ([pic] -

возбуждений). При этом происходит ионизация анионов (X») и переход

электронов к катионам ([pic]), кристалл становится токопроводящим.

При энергиях квантов, превышающих ширину запрещенной зоны ( [pic]), в

спектре оптического поглощения наблюдается боль-вое число резких и размытых

максимумов, налагающихся на относительно плавно изменяющийся «фон». Резкие

максимумы обусловлены высокоэнергетическими анионными экситонами, а фон

отражает структуру валентной зоны и зоны проводимости и соответствует

рождению электронно-дырочных пар.

В ионных кристаллах существуют и катионные экситоны. Энергия возбуждения

свободных ионов щелочных металлов имеют в эВ следующие значения: [pic]

[pic] [pic] ;[pic]; [pic] (см.:[16] c.29, с.29). В этих областях спектра

обнаружены узкие, хорошо выраженные максимумы, характерные для каждого из

катионов и слабо зависящие от анионов.

Поглощение оптического излучения, связанное с образованием в кристалле

экситонов и электронно-дырочных пар, называется собственным или

фундаментальным поглощением.

При наличии в кристалле примесных дефектов (в люминесцирующие кристаллы

активирующая примесь обычно вводится преднамеренно, § 3.2) в запрещенной

зоне энергии возникают локальные уровни E1, и E2, (рис. 1.8),

соответствующие основному и возбужденное состояниям примесного центра.

Локальным электронным возбуждениям соответствуют полосы поглощения l (рис.

2.1).

При возбуждении ионных кристаллов квантами электромагнитного излучения

большой энергии (рентгеновское, [pic] -излучение) в них протекают сложные

процессы, которые схематично могут быть описаны следующим образом [14,16].

В результате первичного акта взаимодействия ионизирующей радиации с

кристаллом в нем за время порядка ~[pic]c возникают электроны большой

энергии ([pic] ); создающие в кристалле каскады вторичных электронов (рис.

2.2). В результате неизвестных пока процессов за время [pic]c. эти

электроны создают нестабильные возбуждения кристаллической решетки,

называемые резонансами (r), которые в течение [pic]c. распадаются на

стабильные элементарные возбуждения (S )

При возбуждении кристалла медленными электронами и фотонами с энергией

порядка ширины запрещенной зоны сразу создаются t -возбуждения или S

-возбувдения (в зависимости от энергии возбуждающих частиц).

В ЩГК имеется два вида S -возбуждений : электронно-дырочные

дары и низкоэнергетические анионные экситоны. Роль этих элементарных

электронных возбуждении в радиационных и люминесцентных процессах

чрезвычайно велика. Именно они определяют процессы изменения химического

состояния ионов примеси и ионов, образующих решетку кристалла, процессы

накопления и распада различных радиационных дефектов (§§ 2.3; 2.4).

Мигрируя по кристаллической решетке, S -возбуждения передают своп энергию

(порядка ширины запрещенной зоны)центрам свечения, создавая локализованные

возбужденные состояния, которые разрушаются с испусканием квантов

люминесценции или безызлучательно (с испусканием фононов) (§ 3.5; 3,6).

Электронные возбуждения - один из видов нарушений (дефектов) идеальной

кристаллической решетки. В самом деле, в идеальном ионном кристалле

частично заполненные энергетические зоны отсутствуют. Следовательно,

появившийся свободный электрон в зоне проводимости является одним из

дефектов. Аналогично обстоит дело и в случае появления незанятого

электроном квантового состояния (дырки) в валентной зоне.

§2.2. Нерелаксированные и релаксированные электронные возбуждения в щелочно-

галоидчых кристаллах (10,12,17,19-31]

Как показано в §2.1, основными электронными возбуждениями в Щга являются

стабильные возбуждения типа электронно-дырочных пар и низкоэнергетических

анионных экситонов. Рассмотрим их возможные состояния и свойства.

При поглощении кристаллом кванта света достаточной энергии ([pic])

совершается переход электрона из валентной зоны в зону проводимости,

возникает нерелаксированное электронное возбуждение - зонный электрон,

свойства которого определяются в конечном итоге структурой .зоны

проводимости. За время [pic]с. электрон, сильно взаимодействуя с

колебаниями решетки (с фонона-ми), релаксирует, т.е. переходит в

равновесное состояние. Движущийся электрон вызывает поляризацию своего

непосредствонного окружения, т.е. относительное смещение положительных и

отрицательных ионов решетки. Электрон, двигаясь по решетке, увлекает за

собой состояние поляризации окружения. Электрон проводимости в ионном

кристалле часто называют поляроном. Хотя поляронный эффект для электронов

имеет место, тем не менее они мигрируют настолько быстро, что вызываемая

ими инерционная поляризация окружающей кристаллической решетки не успевает

развиться в такой степени, чтобы сильно замедлить движение электронов.

Электроны остаются подвижными вплоть до; температуры жидкого гелия.

Локализация электронов в регулярных узлах кристаллической решетки

(самозахват, автолокализация) не обнаружена. Как нерелаксированное так и

релаксированное (поляронное) состояния электрона являются состояниями

зонного типа. Это не означает, конечно, что свойства "горячих" электронов,

имеющих энергию в несколько элокт-ронвольт, не могут отличаться от свойств

тепловых электронов. Горячий электрон в ЩГК может иметь весьма интересные

свойства, учитываемые, в частности, в теориях электрического пробоя ЦГК, а

в последнее время и в люминесцентных явлениях (см.: ра], с.7). Поскольку

различия в свойствах релаксированного и нерелаксирован-ного состояний

электрона выражены слабо, они изучены пока значительно 'хуже, чем

соответствующие различия для дырок и экситонов ([20],c.37).

При облучении ЩГК светом из области переходов зона-зона происходит

ионизация иона галоида ([pic]). В начальный момент в валентной зоне

образуется дырка, обладающая запасом кинетической энергии относительно

потолка зоны ("горячая" дырка). Перемещаясь по кристаллу, дырка отдает

избыток энергии кристаллу (релаксирует) и "всплывает" к потолку валентной

зоны. Атом галоида (Х°) неустойчив и в процессе релаксации образует с

соседним ионом [pic]молекулярный ион [pic]. Образование вида [pic] при

достаточно низких температурах стабильно и ориентировано в направлении <

110> р гранецентрированных кристаллах. Расстояние между ядре т галоидов,

входящих в состав [pic]- центра, называемого обычно Vk- центром,

уменьшается на 30-40%, однако они по-прежнему занимают два анионных узла

(рис. 2.3). В данном случае имеет место локализация образующейся при

облучении зонной дырки на двух ионах галоида, т.е. автолокализация дырки.

Одновременная локализация электро». нон ча дефектах кристаллической решетки

прэдотвращаат их рекомбинацию с автолокализоовными дырками и делает

возможным дли-дельное существование Vk - центров.

Образовавшаяся при облучении дырка проходит до полной релаксации

(автолокализации) некоторое расстояние. Если такая не полностью

релансированная дырка встречает на пути ион активирующей примеси [pic] , то

она может захватиться им и образовать [pic]- центр. Пробег дырка до полной

релаксации может быть значительным ( ~100 а, где а - постоянная решетки).

Страницы: 1, 2, 3



Реклама
В соцсетях
скачать рефераты скачать рефераты скачать рефераты скачать рефераты скачать рефераты скачать рефераты скачать рефераты