прямоугольный потенциальный барьер высотой Fi, зависимость туннельного тока
I от ширины барьера z выражается экспоненциальным множителем
Дифференцированием этого множителя получаем;
и,следовательно
т.е. производная туннельного тока по ширине туннельного зазора,
нормированная на сам туннельный ток, дает информацию о локальной высоте
потенциального барьера. Так как среднее значение туннельного тока в
процессе сканирования поддерживается постоянным, и амплитуда вибрации
пьезотрубки не меняется, то полученная в результате сканирования картина
распределения амплитуды колебаний туннельного тока как раз и содержит
информацию о распределении величины Fi , и, следовательно, о химических
свойствах поверхности. Реальная ситуация не столь проста, и амплитуда
колебаний туннельного тока зависит еще от геометрии поверхности, от состава
адсорбатов которые искажают форму потенциального барьера и кроме того, при
измерениях на воздухе из-за наличия адсорбатов между иглой и поверхностью
всегда существует заметная сила отталкивания, т.к. игла должна "продавить"
слой адсорбата, прежде чем возникает заметный туннельный ток.
Это приводит к зависимости результатов измерений от локальной жесткости
образца Так, в местах, где жесткость образца ниже, вибрация приводит в
большей степени к деформации самого образца, а не к деформации адсорбата и
изменению туннельного зазора. Амплитуда модуляции туннельного тока
уменьшается, создавая впечатление относительно пониженной работы
выхода.Этот эффект следует учитывать при интерпретации результатов.
Режим спектроскопии
В режиме спектроскопии модулируется туннельное напряжение и между образцом
и иглой, и регистрируется амплитуда отклика туннельного тока на эту
модуляцию. При этом постоянная составляющая туннельного напряжения остается
неизменной, и обратная связь поддерживает постоянное среднее значение
туннельного тока. Таким образом, результат измерения представляет собой
производную dI/dU в заданной точке вольт-амперной характеристики. Поскольку
форма вольт-амперной характеристики опрелеляется в первую очередь
энергетическим спектром объемных и поверхностных электронных состояний иглы
и образца, этот режим и получил название режима спектроскопии.
В режиме спектроскопии, как и в режиме измерения локальной высоты барьера,
важно, чтобы обратная связь успевала с высокий точностью поддерживать
постоянным среднее значение I (если усилитель работает не в логарифмическом
режиме), поскольку на многих образцж изменение среднего значения I из-за
неровностей рельефа может привести к гораздо большим отклонениям амплитуды
колебаний туннельного тока, чем изменение свойств поверхности.
2.2.3.2 АСМ-методы
К числу вибрационных методов АСМ относятся бесконтактный, полуконтактный
режим и режим локальной жесткости.
Бесконтактным режим
Бесконтактный режим обеспечивает измерение Ван-дер-Ваальсовых электронных,
магнитных сил вблизи поверхности, причем сила взаимодействия может быть
очень малой (порядка 10-12Н), что позволяет исследовать очень
чувствительные или слабо связанные с поверхностью объекты, не разрушая, и
не сдвигая их.
Вкладыш - держатель кантилевера (Рис.9) содержит пьезокерамическую
пластинку, вибрации которой передаются кантилеверу и возбуждают его
колебания на требуемой частоте, которая во всех разновидностях этого метода
выбирается в пределах одного из резонансных пиков на амплитудно-частотной
характеристике (АЧХ).
Рис. 9
Возбуждающий сигнал формируется цифровым синтезатором, содержащим
высокостабильный кварцевый генератор, что позволяет поддерживать частоту
сигнала с относительной точностью не хуже 10-5-10-6. Переменная
составляющая сигнала с четырехсекционного фотодиода, обусловленная
колебаниями кантилевера, усиливается и попадает на вход синхронного
детектора, который можно формировать:
- сигнал, пропорциональный амплитуде основной частоты или одной из
гармоник.
- сигнал сдвига фазы (колебаний кантилевера относительно возбуждающего
сигнала.
- либо сигнал произведения амплитуды на зт или соб сдвига фазы. Любой из
перечисленных сигналов может быть включен в петлю обратной связи.
Вблизи поверхности образца вибрирующий с малой амплитудой кантилевер
попадает в неоднородное силовое поле. Наличие градиента силы приводит к
частотному сдвигу резонансного пика. Поэтому в случае возбуждения сигналом
фиксированной частоты амплитуда и фаза колебаний кантилевера в неоднородном
поле меняется.
Если обратная связь в процессе сканирования меняет положение зонда по
нормали к образцу поддерживая амплитуду, либо фазу колебаний кантилевера
постоянной (режим топографии),то результатом записи сигнала на выходе ОС в
процессе сканирования является поверхность постоянного градиента силы.
Можно регистрировать изменения амплитуды либо фазы колебаний в процессе
сканирования, не меняя расстояние между зондом и основанием образца (режим
постоянной высоты). Возможен также режим, предусматривающий предварительное
сканирование, топографии в контактном или полуконтактном режиме, после чего
производится повторное сканирование по тому же участку с поддержанием
заданного удаления зонда от поверхности в каждой точке сканирования с
регистрацией амплитуды либо фазы. Этот режим позволяет отделить информацию
о магнитных и электрических свойствах поверхности от топографических данных
, т.к. Вандер-Ваальсово притяжение кантилевера и поверхности остается
практически неизменным при повторном сканировании, поскольку расстояние
между зондом и поверхностью не меняется, и, значит изменение амплитуды и
фазы колебаний вызываются другими дальнодействующими силами -
электрическими либо магнитными.
Минимально возможное расстояние между иглой кантилевера и поверхностью
образца в бесконтактном режиме определяется, с одной стороны, свойствами
иглы кантилевера и поверхности, а с другой стороны - жесткостью балки
кантилевера. Если по мере приближения зонда к поверхности по достижении
некоторого расстояния между ними окажется, что градиент силы притяжения
иглы к образцу превысил жесткость балки кантилевера, то кантилевер
"прилипнет" к поверхности. Поэтому минимальная рабочая дистанция должна
превышать это критическое расстояние. Наиболее значительной причиной
притяжения являются, как правило, капиллярные эффекты, которые, к тому же,
обладают большим собственным гистерезисом Но и в отсутствие капиллярных
явлений, например, в случае несмачиваемых поверхностей, эффект "залипания"
может наблюдаться из-за электростатических, магнитных и даже Ван-дер-
Ваальсовых сил притяжения. Поэтому чем вы те жесткость кантилевера тем
меньше может быть рабочее расстояние, и тем большего разрешения можно
достичь (при удалениях, соизмеримых, или превы-шающих радиус кривизны
кантилевера), хотя при этом возрастает и сила взаимодействия. Возможна
также ситуация, когда градиент сил притяжения не превосходит жесткости
кантилевера вплоть до касания иглы и поверхности, т.е. вплоть до сближения
крайних атомов зонда и образца в область отталкивающего потенциала, и,
значит, рабочее расстояние может быть сколь угодно малым. Такая ситуация
является переходной между бесконтактным и полуконтактным режимом.
Полуконтактный режим
Характерной особенностью полуконтактного режима является то, что большую
часть периода колебаний кантилевер не касается поверхности и вообще
относительно слабо взаимодействует с образцом. И только при сближении иглы
с поверхностью вплоть до попадания в область отталкивающего потенциала
взаимодействие резко усиливается, и при этом соударении кантилевер теряет
избыток энергии, накопленный за остальную часть периода. В зависимости от
характера взаимодействия может меняться сдвиг фазы основной гармоники
колебаний относительно возбуждающего сигнала и амплитуда и фаза высших
гармоник. Базовым же эффектом является ограничение амплитуды колебаний на
уровне, примерно равном расстоянию между вершиной иглы в свободном
состоянии кантилевера и поверхностью образца. Т.е., грубо говоря,
кантилевер может растачиваться только до касания поверхности образца и не
дальше.В полуконтактном режиме, в отличие от бесконтактного, жесткость
кантилевера может быть меньше, чем максимальный градиент сил притяжения
вблизи поверхности. Избавиться же от "залипания" иглы можно путем
увеличения амплитуды колебаний кантилевера до такого значения при котором
сила со стороны балки кантилевера, отрывающая иглу от поверхности,
превышает притяжение иглы к поверхности. В бесконтактном режиме это
невозможно, поскольку там амплитуда должна быть мала по сравнению с
расстояниями, на которых заметно меняется градиент сил.
Режим измерения жесткости.
В режиме измерения локальной жесткости сигнал модуляции подается на 2-
обкладки пьезотрубки. При этом игла кантилевера касается поверхности, и
вибрация образца передается кантилеверу. Измеряемой величиной является
амплитуда колебаний балки кантилевера. Коэффициент передачи колебаний
образца в колебания балки кантилевера пропорционален отношению жесткости
системы игла- поверхность в данной точке к жесткости балки. В одном
предельном случае абсолютно гибкого кантилевера с жесткой иглой на жестком
образце, колебания пьезотрубки полностью передаются балке. В другом
предельном случае очень жесткого кантилеверана гибком или легко
деформируемом образце и/или при мягкой игле колебания трубки приводят лишь
к деформации поверхности и иглы, тогда как балка остается неподвижной.
Следует помнить, что жесткость системы игла-образец зависит не только от
модулей Юнга соприкасающихся поверхностей, но и от их геометрии, в
частности, от радиусов кривизны. Наибольшая жесткость в области контакта
достигается в случае поверхностей равных по величине кривизны, но
противоположного знака, т.е., в случаев контакта круглого острия иглы с
круглой впадиной того же радиуса.
Поэтому режим измерения локальной жесткости будет контрастировать ступеньки
на образце, показывать небольшие бугорки как области с пониженной
жесткостью, даже если они состоят из того же материала, что и весь образец.
2.2.4 Схема взаимодействия компонентов СЗМ
На (Рис.10) схематично изображены составляющие компоненты присущие СЗМ;
- исследуемый образец,
- игла ССМ,
- кантилевер ССМ,
- система регистрации отклонения кантилевера,
- сканер, чье перемещение в плоскости задает сканирование, а вертикальное
перемещение по оси Z управляется обратной связью,
- движитель с системой грубого подвода, обеспечивающий подведение образца к
зонду в зону рабочего диапазона сканера,
- процессор,
- блок питания,
- рабочая станция.
Рис. 10
2.2.5 Схема регистрации отклонения кантилевера
В ССМ корпорации МДТ использована оптическая схема регистрации отклонений
кантилевера (Рис.11), которая, являясь относительно несложной, позволяет
регистрировать суб-ангстремные отклонения кантилевера. Источником является
полупроводниковый лазер Lyambda=670 нм, Р = 0,9 мВт, луч которого
фокусируется на зеркальной поверхности кантилевера в районе острия.
Отраженный от кантилевера свет попадает на четырехсекционный фотодиод,
усиленный разностный сигнал от которого позволяет определять угловое
отклонение кантиклевера с точностью менее 0.1нм, что обеспечивает
разрешение по вертикали 0.1нм.
